Зондовые станции для тестирования полупроводников

Зондовые станции компании Eoulu представляют собой программно-определяемое аппаратное решение, которое позволяет гибко настраивать оборудование в соответствии с требованиями заказчика, адаптируя станции к различным типам испытаний.

Автоматизация процесса тестирования исключает риск ошибок, связанных с ручным позиционированием зондов, обеспечивая высокую точность и скорость измерений.

Благодаря специализированному программному обеспечению futureC, станция легко интегрируется с широким спектром современных измерительных приборов от ведущих производителей.

Система управления процессами тестирования поддерживает широкий спектр интерфейсов приборов и приложений, что облегчает интеграцию оборудования для автоматизированного тестирования полупроводниковых пластин.

Программное обеспечение futureD обеспечивает централизованное хранение, обработку и анализ больших объемов данных, предоставляя возможность отслеживания и оптимизации процессов тестирования

Таким образом, зондовые станции компании Eoulu предлагают инновационный подход к автоматизации тестирования полупроводниковых пластин, устраняя многие недостатки традиционных решений и значительно повышая эффективность и качество производства исследуемой продукции.

Зондовая станция F1

Зондовая станция F1 — это инновационная, компактная и легкая платформа для автоматизированного тестирования полупроводниковых пластин.
Станция отличается высокой точностью позиционирования и надежностью, поддерживает функции автоматической настройки. Минимизация вероятности ошибок измерений благодаря технологиям Zero Error и Virtual Ruler.
Интеграция с измерительными системами через программное обеспечение futureC, что обеспечивает широкие возможности для автоматизации процессов.
Совместимость с пластинами различных размеров и широкий диапазон рабочих температур, включая экстремальные значения от -60 до +300°C, а также оптимизированная система смены режимов нагрева и охлаждения позволяет минимизировать время переходных процессов.
Перейти к описанию

Зондовая станция M1

Зондовая станция M1 представляет собой уникальное высокотехнологичное решение для проведения промышленного тестирования полупроводниковых кристаллов и подложек. Интеграция передовых технологий и высокая степень автоматизации обеспечивают высокую точность и скорость выполнения контрольных процедур даже в сложных производственных условиях.
Система коррекции дефектов, основанная на технологиях Zero Error и Virtual Ruler, способствует повышению надежности результатов и минимизации вероятности ошибок.
Возможность размещения станции в защитном кожухе позволяет обеспечить защиту исследуемых объектов от воздействия внешних факторов, таких как свет и электромагнитные поля. Рабочий температурный диапазон составляет от -60 до +300°C.
Зондовая станция M1 является ключевым инструментом для повышения эффективности и надежности производственного контроля, что делает ее востребованной в сферах микроэлектроники и полупроводниковой промышленности.
Перейти к описанию

Зондовая станция F1 SiPh

Зондовая станция SiPh F1 представляет собой передовую платформу для тестирования фотонных интегральных схем. Станция характеризуется высокой точностью позиционирования и быстротой выполнения калибровки.
Поддерживает работу в широком диапазоне температур и типов волоконно-оптических соединений.
Компактные габариты и малый вес обеспечивают экономию пространства и упрощают процесс монтажа.
Простота эксплуатации достигается за счет цифрового управления и интеграции аналитических инструментов для обработки данных.
Перейти к описанию

Загрузчик пластин ROA-001

Загрузчик пластин ROA-001 оптимизирует процесс тестирования полупроводниковых пластин, обеспечивает автоматическую загрузку и выгрузку пластин различных размеров. Интегрируется с зондовыми станциями, позволяя модернизировать системы тестирования до уровня полной автоматизации.
Перейти к описанию

Матрица коммутатор SWIT-009

Матрица коммутатор SWIT-009 — это профессиональное решение для эффективного распределения и управления сигналами в лабораторных и производственных системах тестирования электронных компонентов, обеспечивает гибкую настройку соединений и надежную передачу сигнала.
Перейти к описанию

Держатель пластин термосистемы

Держатель пластин для термических систем обеспечивает возможность тестирования при высоких и низких температурах от -60 до 300 ℃.
Точность измерения температуры ± 1 ℃, температурное разрешение 0.1 ℃.
Высокая скорость нагрева и охлаждения, простое и удобное управление с помощью программного обеспечения futureC.
Перейти к описанию