- Модели:
- TH521-35-1800C | IV: 3500V/1800A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-35-1800 | IV: 3500V/1800A
- TH521-35-600C | IV: 3500V/600A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-35-600 | IV: 3500V/600A
- TH521-35-200C | IV: 3500V/200A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-35-200 | IV: 3500V/200A
- TH521-35-20C | IV: 3500V/20A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-35-20 | IV: 3500V/20A
- TH521-02-1800C | IV: 200V/1800A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-02-1800 | IV: 200V/1800A
- TH521-02-600C | IV: 200V/600A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-02-600 | IV: 200V/600A
- TH521-02-200C | IV: 200V/200A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-02-200 | IV: 200V/200A
- TH521-02-20C | IV: 200V/20A, CV: 10MHz, Qg
- TH521-02-20 | IV: 200V/20A
- Интерфейсы: RS232, USB, LAN, Handler
Анализатор полупроводниковых приборов Techmize серия TH521
Анализаторы параметров полупроводниковых приборов серии TH521 (16 моделей), позволяют проводить комплексное тестирование и оценку характеристик полупроводниковых устройств. Приборы сочетают в себе высокую точность измерений и широкие функциональные возможности, позволяя инженерам и исследователям эффективно решать задачи разработки и диагностики.
Основные особенности серии TH521 включают широкий диапазон напряжений до 3500 В и токов до 1800 А, проведение температурных тестов от -50°C до +250°C, а также создание и обработку данных результатов измерений для анализа работы полупроводниковых приборов.
Применение и функционал
✓ Тестирование полупроводниковых устройств
✓ Разработка и проектирование
✓ Контроль качества
✓ Научные исследования
✓ Измерение основных электрических параметров полупроводниковых устройств, таких как напряжение пробоя (BV), сопротивление включения (Ron), утечки (leakage), пороговое напряжение (Vth), напряжение насыщения (Vsat).
✓ Возможность проведения измерений на уровне отдельных чипов и целых пластин (wafer-level testing)
✓ Автоматизированные тесты позволяют сократить время испытаний и минимизировать человеческий фактор.
✓ Автоматическая генерация результатов измерений предотвращает ошибки и упрощает процесс обработки данных.
✓ Опционально доступны дополнительные модули для расширения функционала прибора, такие как измерение емкости (CV) и заряда затвора (Qg).
✓ Поддержка диапазона токов до 1800 А, для тестирования мощных силовых полупроводников.
• Режим CV, частота: до 10 МГц.
• Режим IV, напряжение: от 200 В до 3500 В.
• Режим IV, ток: от 20 А до 1800 А.
• Высокая точность и стабильность.
• Высокая скорость измерений.
• Большой емкостной сенсорный экран с высоким разрешением.
