- Модели:
- TH2827A | 20 Гц – 300 кГц
- TH2827C | 20 Гц – 1 МГц
- Базовая точность: 0.05%
- Разрешение по частоте: 10 мГц
- Уровень AC-сигнала: напряжение 5 мВ – 2 В (скз), ток 100 мкА – 20 мА (скз)*
- Встроенное DC-смещение: 0 В – ±5 В / 0 мА – ±50 мА
- Внешний DC BIAS: управление до 6 источников тока TH1778 (до 120 А)
- Тестирование DCR: внутреннее сопротивление 30 Ом, 50 Ом, 100 Ом (выбираемо)
- Дисплей: 4.3″, TFT LCD, 480×272
- Скорость измерений: FAST 9 мс, MED 67 мс, SLOW 187 мс (при ≥10 кГц)
- Измеряемые параметры: |Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ, DCR, VDC, IDC
- Интерфейсы: RS232C, USB, LAN, HANDLER; GPIB (опция)
Измеритель импеданса LCR TH2827 от 20 Гц до 300 кГц
Серия TH2827 представляет собой многофункциональные измерители импеданса, отличающиеся компактностью и портативностью, а также удобством монтажа в стойку. Приборы оснащены 4.3-дюймовым TFT LCD-дисплеем с поддержкой английского интерфейса и обеспечивают базовую точность измерений 0.05% с разрешением по частоте до 10 мГц. Встроенный функционал тестирования параметров трансформаторов значительно расширяет возможности приборов. Серия включает две модификации: TH2827A (20 Гц – 300 кГц) и TH2827C (20 Гц – 1 МГц). Интеграция в автоматизированные системы обеспечивается богатым набором интерфейсов, как LAN и USB.
Применение и функционал
✓ Пассивные компоненты: конденсаторы, индуктивности, магнитные сердечники, резисторы, пьезоэлементы, трансформаторы, чип-компоненты и сетевые элементы;
✓ Полупроводниковые компоненты: анализ паразитных параметров ИС драйверов LED; C-V DC характеристики варикапов; анализ паразитных параметров транзисторов и ИС;
✓ Прочие элементы: печатные платы, реле, переключатели, кабели, аккумуляторы;
✓ Диэлектрические материалы: оценка диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь пластика, керамики и других материалов;
✓ Магнитные материалы: оценка магнитной проницаемости и тангенса угла потерь ферритов, аморфных и других магнитных материалов;
✓ Полупроводниковые материалы: оценка диэлектрической проницаемости, проводимости и C-V характеристик;
✓ ЖК материалы: оценка диэлектрической проницаемости, упругих постоянных и C-V характеристик жидкокристаллических ячеек.
• Высокая точность и скорость: базовая погрешность составляет 0.05%, минимальное время измерения 9 мс (быстрый режим);
• Тестирование трансформаторов: встроенная функция оценки параметров (L1, L2, DCR1, DCR2, M, N, 1/N) без необходимости использования дополнительного оборудования;
• Списочное сканирование: функция List Sweep поддерживает до 201 точки с возможностью независимого сканирования по частоте, уровню AC/DC сигнала и смещению;
• Интеллектуальная сортировка: 10-бинный компаратор (BIN1–BIN9, NG, AUX) со счётчиком и светодиодной индикацией PASS/FAIL на передней панели;
• Гибкая настройка источника: выбираемое внутреннее сопротивление 30 Ом, 50 Ом или 100 Ом для AC и DCR источников;
• Автоматическая регулировка уровня (ALC) и мониторинг тестового сигнала (V, I);
• Математические функции и память: прямое считывание, ΔABS, Δ%; сохранение до 40 групп настроек и прямое сохранение данных (CSV, GIF) на внешний USB-накопитель;
• Интерфейсы: стандартные RS232C, USB HOST, USB DEVICE, LAN, HANDLER; опциональный GPIB для интеграции в производственные линии.
