Программное обеспечение Eoulu FutureD
Система обработки данных futureD разработана для оптимизации процессов анализа и управления массивами данных, генерируемых в ходе тестирования полупроводниковых устройств. Уникальные структуры обработки данных, разработанные командой Eoulu, обеспечивают эффективность вычислительных операций и презентационных материалов.
FutureD устанавливает стандарты хранения и управления данными тестирования пластин и отдельных кристаллов, обеспечивают эффективность вычислительных операций и предоставление результатов обработки данных.
Система предоставляет широкие возможности для анализа статистических данных, сравнения диаграмм пластин, создания отчётов и подготовки презентационных материалов, что позволяет существенно упростить повседневную работу с данными.
Преимущества и функционал
Уровень кассеты (Cassette-level)
Инновационное визуализированное графическое хранилище Eoulu с отображением пластин в кассетах. Предназначен для организации и хранения данных на высоком уровне иерархии производства полупроводниковых приборов.
✓ Основные особенности и возможности уровня Cassette-level:
• Хранение данных: данные хранятся в виртуальном графическом хранилище, которое наглядно демонстрирует размещение пластин в кассетах.
• Организация: обеспечивает структурированное хранение информации, облегчая отслеживание данных отдельных кристаллов внутри каждой кассеты.
• Масштабируемость: позволяет эффективно управлять большим количеством кассет и содержащихся в них пластин, обеспечивая удобный доступ к необходимым данным.
• Интеграция: совместимость с уровнями системы FutureD (Wafer-level, Die-level), что упрощает переход между различными этапами анализа и отчетности.
Уровень пластины (Wafer-level)
Веб-векторная карта пластины позволяет визуально представить структуру расположения чипов на поверхности пластины, просмотр детальных данных и соответствующих характеристик кривизны.
✓ Основные особенности и возможности уровня Wafer-level:
• Визуализация: графическое представление структуры пластины, позволяющее оценить распределение чипов.
• Интерактивность: возможность просмотра детальных данных и соответствующих характеристик кривизны.
• Анализ: поддержка различных видов анализа годных изделий, как статистика выхода, накопленный выход, обратный выхода, гистограмма.
• Формат представлений: картографирование выхода продукции, цветовая градиентная карта, численные и трехмерные представления.
Уровень кристалла (Die-level)
Предоставление данных отдельных кристаллов на пластинах, позволяет произвести быструю обработку и упорядочивание представленной информации.
✓ Основные особенности и возможности уровня Die-level:
• Детализация: предоставление подробной информацию о каждом отдельном кристалле, включая его характеристики и показатели качества.
• Быстрое получение данных: позволяет оперативно получать необходимые данные путем быстрой обработки исходных файлов, что гарантирует четкую организацию всей доступной информации.
• Интеграция: совместимость с уровнями системы FutureD (Wafer-level, Cassette-level), обеспечивая плавный переход между уровнями анализа данных и отчетов.
• Удобство использования: благодаря интуитивно понятному интерфейсу и простым инструментам аналитики, пользователи могут легко анализировать данные каждого кристалла, выявлять его проблемы и отклонения.
