Тестирование на пластинах

Когда дело доходит до производственных испытаний ВЧ транзисторов на пластинах, время тестирования играет решающую роль. На измерения каждого кристалла тратится всего несколько секунд, и это короткое время используется для базового параметрического анализа, такого как построение кривых ВАХ (IV) и получения S-параметров.

Еще затратив несколько дополнительных секунд на каждый кристал, можно получить дополнительные РЧ параметры, такие как выходная мощность, по которой можно рассчитать эффективность, но такие измерения всегда выполняются при импедансе 50 Ом, либо при некотором фиксированном импедансе. Несмотря на то, что ВЧ транзисторы могут иметь импеданс нагрузки в несколько Ом или меньше, производственные испытания с переменным импедансом не превышающим 50 Ом, никогда не проводились из-за длительного времени тестирования традиционными механическими тюнерами импеданса.

Активный Load Pull c разомкнутым контуром сокращает время тестирования за счет исключения из схемы измерения механических тюнеров импеданса, но количество измерений точек в секунду, по-прежнему может достигать невысоких значений (несколько точек в секунду).

Системы тестирования на пластинах для производства MT1000 / MT2000

MT1000 и MT2000, единственные системы активного Load Pull со смешанным сигналом, способные настраивать и измерять сотни и тысячи состояний импеданса/мощности в минуту! Передовой запатентованный алгоритм позволяет проводить производственные испытания в непрерывном и импульсном режимах для нескольких состояний импеданса нагрузки на нескольких уровнях мощности затрачивая всего одну секунду измерений на кристалл.

Интуитивно понятный интерфейс прикладного программирования (API) позволяет пользователю сочетать производительность MT1000 / MT2000 с программным обеспечением FormFactor Nucleus, что позвляет полностью автоматизировать процесс производственных испытаний.