Авторизованный партнёр
Keysight Technologies
Официальный дистрибьютор
Cascade Microtech
Официальный дистрибьютор
Maury Micorwave Corporation
Официальный дистрибьютор
Farran Technology
Партнер Spellman


115191, г. Москва, Холодильный пер, д.3, корп.1, стр.4
тел./факс: (495) 955-27-24, 955-27-37, 955-27-98
e-mail: info@ntnk.ru
зондовые методы контроля в микроэлектронике
Измерительные приборы и комплексы
Вычислительная техника
Автоматизация
Атомно-силовые микроскопы Keysight
 КаталогСредства измерений параметров поверхности ► Атомно-силовые микроскопы
     Отдел Электронных Измерений компании Agilent Technologies стал компанией Keysight Technologies Подробнее....

Атомно-силовые микроскопы компании Keysight Technologies

  Атомно-силовые микроскопы Keysight - это универсальные, как исследовательские, так и измерительные инструменты.
  Они обеспечивают выполнение таких зондовых методов измерений, как:

     • сканирующая туннельная микроскопия;
     • микроскопия латеральной силы;
     • электросиловая микроскопия;
     • магнитно-силовая микроскопия;
     • сканирующая микроволновая микроскопия (Keysight's SMM Mode);
     • силовая микроскопия Кельвина;
     • режим магнитных измерений переменного тока (Keysight's MAC Mode);
     • контактный режим;
     • фазовые отображения;
     • токовая чувствительность;
     • силовая модуляция;
     • акустический режим переменного тока (режим теппинга).


Микроскоп

  Атомно-силовые микроскопы Keysight – это высокоточные модульные приборы, работающие под управлением профессионального и очень удобного в эксплуатации программного обеспечения. Используемые в системах АСМ сканеры Keysight имеют специальную запатентованную маятниковую конструкцию, позволяющую реализовать режим сканирования зондом, исключающий уход луча лазера с кончика кантилевера. В то же самое время сменные наконечники сканера позволяют применять различные методики зондовой микроскопии, используя тот же самый сканер. Атомно-силовые микроскопы Keysight обеспечивают прецизионный контроль условий проведения измерений.

Переход к разделу по АСМ на сайте Keysight Technologies
PDF Применение АСМ в наноизмерениях (на англ. языке) PDF: (1,7 Mb)


Keysight 9500 AFM

Подробнее..
• Атомарная разрешающая способность, используя метрологический 90 мкм сканер с обратной связью позиционирования;
• Прецизионный контроль среды и температуры эксперимента;
• Расширенные возможности методик сканирования;
• Сканирование в жидкости, газе или на воздухе;
• Однопроходное картирование электрических свойств;
• Беспрецедентные возможности для электрохимии.
Keysight 7500 AFM

Подробнее..
• Атомарная разрешающая способность, используя метрологический 90 мкм сканер с обратной связью позиционирования;
• Прецизионный контроль среды и температуры эксперимента;
• Расширенные возможности методик сканирования;
• Сканирование в жидкости, газе или на воздухе;
• Однопроходное картирование электрических свойств;
• Беспрецедентные возможности для электрохимии.
Keysight 5600LS AFM/SPM

Подробнее..
• Обеспечивает полный доступ к образцу на площади 200 мм Х 200 мм;
• Атомарное разрешение при использовании АСМ или СТМ сканеров;
• Программируемое позиционирование/сканирование по изображению;
• Высокая воспроизводимость результатов.
Keysight 5500 AFM/SPM

Подробнее..
• Наиболее масштабируемая модульная система СЗМ/АСМ;
• Лучший контроль среды и температуры проведения измерений;
• Лучшее сканирование в жидкости, газовой среде или на воздухе;
• Высокая разрешающая способность + большое поле сканирования.




Наша почта   Наш канал на YouTube

Модели АСМ:

Доступны для заказа до ноября 2016 года:
Архивные продукты:

6 мая 2016 года
Keysight Technologies выпустила новый атомно-силовой микроскоп с системой быстрого сканирования Keysight 9500.

Подробнее..



26 декабря 2013 года
Keysight Technologies разаработала новый атомно-силовой микроскоп с атомарной разрешающей способностью и расширенными методиками сканирования поверхности Keysight 7500.

Подробнее..


 
тел.:+7 (495) 955-27-24, 955-27-37, e-mail:  info@ntnk.ru вебмастер: www@ntnk.ru  
Яндекс цитирования Яндекс.Метрика